點(diǎn)擊圖片查看大圖非晶硅太陽能組件測(cè)試儀
SMT—A型太陽能組件測(cè)試儀【非晶硅】
產(chǎn)品特點(diǎn)
?本太陽能電池組件測(cè)試儀采用臥式箱體及下打光光路設(shè)計(jì)，適合于光伏組件的電性能中間檢測(cè)和終檢測(cè)
?光源采用目前國際流行的脈沖氙燈模擬器光源，用陶瓷腔體反射裝置實(shí)現(xiàn)高均勻度的模擬太陽光，從而避免了因穩(wěn)態(tài)陽光模擬器帶來的溫度對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
?模擬器光源光譜范圍符合IEC60904-9光譜輻照分布A級(jí)要求
?光強(qiáng)100mW/c㎡ （調(diào)節(jié)范圍70-120mW/c㎡）
?先進(jìn)的精密恒光控制技術(shù)，輻照不穩(wěn)定度:±1﹪(A級(jí))
?德國進(jìn)口脈沖氙燈，并配有專用的濾光光學(xué)組件，確保測(cè)試光源的光譜正確，使用壽命長
?具有閃光次數(shù)計(jì)數(shù)功能（更換可歸零重置）
應(yīng)用及市場(chǎng)
專門用于太陽能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)
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型號(hào)規(guī)格 |
SMT-A |
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光譜范圍 |
符合IEC60904-9要求（A級(jí)） |
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輻照強(qiáng)度 |
100mW/cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2) |
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輻照不均勻度 |
≤±2% A級(jí) |
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輻照不穩(wěn)定度 |
≤±2% A級(jí) |
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測(cè)試結(jié)果一致性 |
≤±0.5% |
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電性能測(cè)試誤差 |
≤±1% |
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單次閃光時(shí)間 |
10ms |
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有效測(cè)試面積 |
1200mm×2000mm |
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有效測(cè)試范圍 |
5W~300W |
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測(cè)量電壓 |
0~100V(分辨率1mV) |
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測(cè)量電流 |
0~20A(分辨率1mA) |
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測(cè)試參數(shù) |
Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp |
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數(shù)據(jù)采集 |
含8000個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn) |
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